電子顯微鏡的電器系統(tǒng)(electronsystem)主要有以下幾部分組成:(一)高壓發(fā)生器高壓發(fā)生器是為電鏡提供高壓的裝置,由一個(gè)高壓油箱或氟里昂氣箱和高壓電纜組成,為發(fā)射的電子提供加速能量。其穩(wěn)定性直接影響電鏡的質(zhì)量。一般輸出的...[繼續(xù)閱讀]

    掃描電鏡的工作原理可見(jiàn)圖2-3,主要是利用二次電子成像,其成像原理完全不同于透射電鏡。掃描電鏡的工作原理實(shí)際上與電視或電傳真照片原理相似。由聚光鏡和物鏡組成的電子光學(xué)系統(tǒng),將電子槍發(fā)射出的電子聚集成一極細(xì)的電子...[繼續(xù)閱讀]

    掃描電鏡之所以能夠在許多領(lǐng)域內(nèi)得到廣泛的應(yīng)用,主要是掃描電鏡有許多突出的優(yōu)點(diǎn)。1)掃描電鏡能直接觀察較大體積樣品表面的三維立體結(jié)構(gòu),具有明顯的真實(shí)感,這就彌補(bǔ)了透射電鏡的不足,因?yàn)橥干潆婄R分辨率雖高,但樣品必須是...[繼續(xù)閱讀]

    現(xiàn)在一般提到的STEM,主要是指Crewe等采用的場(chǎng)發(fā)射電子槍式的掃描透射電鏡。在SEM中限制分辨本領(lǐng)的是信噪比,因此電子束的強(qiáng)度不能太弱(SEM中的束流比TEM中的束流大好幾倍)。一般的發(fā)叉型鎢絲提供的極限亮度只能使分辨率達(dá)到2nm左...[繼續(xù)閱讀]

    這種STEM為附件型,一般附加在SEM或TEM上,其分辨率較低,如是透射電鏡附件型,分辨率一般可達(dá)1～1.5nm;如是掃描電鏡附件型,分辨率一般只有4～6nm。這種附件型STEM主要用于X射線能譜、波譜分析或電子損失譜分析,用以觀察元素的分布圖。...[繼續(xù)閱讀]

    高壓電鏡通常是指加速電壓為200kV以上的透射電子顯微鏡。高壓電鏡首先是由法國(guó)建成的,加速電壓為1MV。目前世界上已建成了數(shù)臺(tái)3MV的高壓電鏡,美國(guó)正在籌建15MV的高分辨率超高壓電鏡,而日本正在建造一臺(tái)10MV的超高壓電鏡。高壓電...[繼續(xù)閱讀]

    高壓電鏡的電子束具有很強(qiáng)的穿透力,因而能使樣品減少輻射損傷并能提高分辨率,但高壓電鏡使樣品的反差明顯減弱,這對(duì)生物樣品大為不利。因而人們提出了使樣品輻射損傷降低而反差增強(qiáng)的低壓電鏡(lowvoltageelectronmicroscope)。目前...[繼續(xù)閱讀]

    在環(huán)境掃描電鏡出現(xiàn)以前,電鏡研究用的生物樣品均要經(jīng)過(guò)固定、脫水等處理,以使電鏡光源——電子束在高真空中穿透或掃描樣品而成像。這種研究方法觀察到的生物樣品結(jié)構(gòu)是死的、非實(shí)時(shí)的。因而,限制了電鏡在生物醫(yī)學(xué)中的應(yīng)...[繼續(xù)閱讀]

    [1]BozzolaJJ,RussellLD.ElectronMicroscopy.Principlesandtechniquesforbiologists[M].GonesandBartlett,Boston:1992.[2]EngelA,ColliexC.Applicationofscanningtransmissionelectronmicroscopytothestudyofbiologicalstructure[J].CurrOpinBiotechnol,1993,4(4):403-411.[3...[繼續(xù)閱讀]

    掃描探針顯微鏡(scanningprobemicroscope,SPM)是一類(lèi)全新的顯微鏡的總稱(chēng)。包括了十幾種類(lèi)型:掃描隧道顯微鏡(scanningtunnelingmicroscope,STM),原子力顯微鏡(atomicforcemicroscope,AFM),掃描電容顯微鏡(scanningcapacitancemicroscope),掃描光子顯微鏡(scanningpho...[繼續(xù)閱讀]