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基于橫電磁波小室的IC輻射發(fā)射測試方法研究

微波學(xué)報(bào) 頁數(shù)： 5 2023-08-15
摘要： 集成電路(IC)的發(fā)展呈現(xiàn)出小型化和集成化的趨勢,使得IC電磁輻射越來越強(qiáng),準(zhǔn)確測試出IC電磁輻射對于集成電路電磁兼容設(shè)計(jì)有重要意義。橫電磁波(TEM)小室法是目前最常用的IC輻射測試方法,它使用方形測試板,測試四個(gè)角度(0°, 90°, 270°, 360°)的IC輻射值,然而IC電磁輻射具有角度效應(yīng),僅用四個(gè)角度無法準(zhǔn)確測試出IC最大電磁輻射水平。文中基于TEM小室全波仿真...

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