基于ATE的高速高精度ADC測(cè)試方法
中國(guó)測(cè)試
頁(yè)數(shù): 4 2023-08-31
摘要: 目前高速高精度的ADC在通信技術(shù),雷達(dá)技術(shù)等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。傳統(tǒng)ADC測(cè)試方法使用ATE測(cè)試機(jī)臺(tái)提供生產(chǎn)測(cè)試,ATE板卡提供的時(shí)鐘源和信號(hào)已無(wú)法滿足此類ADC的測(cè)試需求。通過(guò)分析時(shí)鐘抖動(dòng)和相位抖動(dòng)對(duì)ADC參數(shù)的影響估算測(cè)試性能,同時(shí)給出基于ATE的高速高精度ADC測(cè)試方法,使用更小相位抖動(dòng)的時(shí)鐘信號(hào)和更小相位噪聲的信號(hào)源作為模擬輸入,并使用加窗算法解決頻譜泄露,大幅提高高速高...