基于輕量化YOLOX的電子元器件缺陷檢測(cè)方法研究

摘要： 針對(duì)傳統(tǒng)目標(biāo)檢測(cè)方法在對(duì)電子元器件進(jìn)行缺陷檢測(cè)時(shí)存在參數(shù)量大、檢測(cè)效率低的問題，提出了一種基于輕量化YOLOX檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)的目標(biāo)檢測(cè)方法。首先，使用深度可分離卷積對(duì)主干網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)輕量化處理，減少參數(shù)量的同時(shí)提高檢測(cè)速度；其次，構(gòu)建基于空間金字塔的通道注意力模型，對(duì)不同尺度特征進(jìn)行篩選融合，加強(qiáng)小尺寸缺陷的特征權(quán)重；在特征融合的采樣過程中，加入高效通道注意力，在略微增加參數(shù)量的情況下，...