利用命題邏輯最大可滿足性的冗余通孔最優(yōu)插入方法

摘要： 在納米尺度的集成電路設(shè)計中,冗余通孔插入是減輕通孔失效造成良率降低問題的常用技術(shù).文中將最優(yōu)冗余通孔插入問題規(guī)約到命題邏輯最大邏輯可滿足性(maximum satisfiability, Max SAT)問題,并利用完備求解器求取最優(yōu)解.MaxSAT問題是一個NP困難問題,采用2種方法來降低求解難度;一是預(yù)選取方法,將提前確定的不與其他通孔產(chǎn)生沖突的冗余通孔作為部分解來降低問題...