基于會(huì)聚太赫茲光場(chǎng)縱向分量的物質(zhì)瓊斯矩陣測(cè)量技術(shù)

摘要： 提出一種在太赫茲波段檢測(cè)物質(zhì)瓊斯矩陣的方法。利用太赫茲面陣成像系統(tǒng)對(duì)會(huì)聚太赫茲光場(chǎng)的縱向分量進(jìn)行相干測(cè)量，由此提取太赫茲光場(chǎng)的偏振信息，并通過分別測(cè)量未放置樣品、放置原始樣品和樣品旋轉(zhuǎn)90°后的透射太赫茲光場(chǎng)偏振信息，提取樣品的瓊斯矩陣元素。利用此方法，分別對(duì)不同角度的太赫茲偏振片和波片進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)測(cè)量，并與理論結(jié)果進(jìn)行比較，發(fā)現(xiàn)具有很好的一致性。研究結(jié)果說明，所提方法對(duì)表征物質(zhì)...