電子能損效應(yīng)對(duì)材料輻照缺陷影響的理論模擬研究進(jìn)展

摘要： 高能粒子與靶材料相互作用主要通過核能損和電子能損兩種方式損失能量。電子阻止效應(yīng)和電子-聲子耦合效應(yīng)是體現(xiàn)電子能損的兩種不同機(jī)制。準(zhǔn)確模擬高能粒子的輻照損傷過程，亟須解決電子能損效應(yīng)對(duì)粒子輻照損傷的影響這一關(guān)鍵科學(xué)問題。本文綜述了幾種關(guān)鍵結(jié)構(gòu)材料在考慮電子能損效應(yīng)下輻照損傷行為的最新研究進(jìn)展，闡述了電子阻止效應(yīng)、電子-聲子耦合效應(yīng)和電子熱導(dǎo)率等對(duì)輻照缺陷的影響規(guī)律，總結(jié)了目前電子...