高溫超導(dǎo)環(huán)形螺旋導(dǎo)體的磁化損耗研究

摘要： 針對(duì)高溫超導(dǎo)線圈的基本結(jié)構(gòu)單元環(huán)形螺旋導(dǎo)體，通過仿真計(jì)算分析其磁化損耗特性。首先通過實(shí)驗(yàn)和仿真驗(yàn)證了三維T-A法的可靠性，研究了不同的環(huán)中心圓半徑、不同的圓管半徑下磁化損耗特性。研究結(jié)果表明，隨著環(huán)中心圓半徑的增大，環(huán)形螺旋導(dǎo)體的磁化損耗逐漸增加；隨著圓管半徑的增大，環(huán)形螺旋導(dǎo)體的磁化損耗逐漸減小。