GEM相機(jī)監(jiān)測(cè)EAST等離子體破裂研究

摘要： 等離子體破裂是托卡馬克運(yùn)行中常見(jiàn)的一種現(xiàn)象,高參數(shù)等離子體運(yùn)行過(guò)程中發(fā)生破裂會(huì)對(duì)實(shí)驗(yàn)裝置安全運(yùn)行產(chǎn)生威脅。通過(guò)對(duì)等離子體破裂的研究,可以在未來(lái)進(jìn)一步做到破裂的避免和主動(dòng)控制。首先介紹了EAST裝置上的等離子體破裂,通過(guò)GEM相機(jī)對(duì)EAST放電實(shí)驗(yàn)中幾種類型的破裂炮進(jìn)行二維成像分析,對(duì)破裂的發(fā)生過(guò)程進(jìn)行了具體分析。并且在分析過(guò)程中展示了GEM系統(tǒng)較傳統(tǒng)多道系統(tǒng)的優(yōu)越性,確認(rèn)GEM...