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功率器件高溫可靠性測(cè)試加速老化模型及其測(cè)試條件綜述

華北電力大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版) 頁(yè)數(shù)： 11 2023-09-30
摘要： 高溫可靠性測(cè)試如高溫柵偏(High Temperature Gate Bias, HTGB)、高溫反偏(High Temperature Reverse Bias, HTRB)、高溫高濕反偏(High Humidity High Temperature Reverse Bias, H3TRB)是器件出廠和壽命評(píng)估必備的測(cè)試。然而，不同標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試條件不盡相同，其對(duì)應(yīng)的內(nèi)在機(jī)理也不...

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