基于硬件增強(qiáng)設(shè)計(jì)的高速ADC測(cè)試技術(shù)研究

摘要： 針對(duì)高速ADC的精準(zhǔn)評(píng)價(jià)與降低硬件測(cè)試平臺(tái)對(duì)ADC的性能損傷需求，通過(guò)對(duì)高速ADC測(cè)試平臺(tái)硬件損傷的定性分析，對(duì)板級(jí)阻抗、輸入衰減網(wǎng)絡(luò)、通道間隔離度及數(shù)字輸出對(duì)指標(biāo)影響做理論推導(dǎo)。根據(jù)定性分析和理論指導(dǎo)，對(duì)高速ADC的硬件做增強(qiáng)型設(shè)計(jì)。以雙通道1.5 GSPS,10位ADC實(shí)施增強(qiáng)設(shè)計(jì)及系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證，測(cè)試結(jié)果表明：輸入鏈路阻抗、衰減網(wǎng)絡(luò)的優(yōu)化可獲得0.6 dB鏈路增益；輸入鏈路與...