應(yīng)用于ATE的時(shí)間測(cè)量單元設(shè)計(jì)
電子測(cè)量與儀器學(xué)報(bào)
頁(yè)數(shù)： 7 2023-06-29
摘要： 集成電路飛速發(fā)展對(duì)集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)中時(shí)間測(cè)量單元(TMU)的精度提出了更高的要求。針對(duì)這一問(wèn)題，本文使用電子學(xué)引腳測(cè)試芯片MAX9979對(duì)數(shù)字IC施加激勵(lì)和捕獲響應(yīng)，結(jié)合Xilinx Artix-7 FPGA內(nèi)部固化的時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換器(TDC)設(shè)計(jì)了一種高精度的時(shí)間測(cè)量單元。時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換器采用粗、細(xì)計(jì)數(shù)結(jié)合的內(nèi)插方法，粗計(jì)數(shù)由參考時(shí)鐘為200 MHz的32位直接計(jì)數(shù)...
APP 