基于STR的兩級(jí)差分的高精度低功耗TDC
電子測(cè)量與儀器學(xué)報(bào)
頁(yè)數(shù)： 11 2023-06-29
摘要： 隨著集成電路工藝的發(fā)展和集成度的提高，電路延時(shí)顯著降低，傳統(tǒng)的時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換器(TDC)的研究趨向于兼具高分辨率和高精度的電路設(shè)計(jì)。近年來(lái)，摩爾定律逐漸失效，物聯(lián)網(wǎng)大背景下輕量化，微型化，低功耗的邊緣設(shè)備得到了飛速發(fā)展，用于片上延時(shí)測(cè)量的微型化TDC的研究重點(diǎn)逐步轉(zhuǎn)向高精度的低功耗設(shè)計(jì)。基于Xilinx Virtex-6 XC6VLX240T現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列(FPGA)開(kāi)發(fā)平臺(tái)，...
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