基于遠場渦流的平板探頭設(shè)計與缺陷識別研究

摘要： 遠場渦流檢測(RFECT)技術(shù)解決了渦流檢測技術(shù)趨膚效應(yīng)的固有缺陷，與其他電磁無損檢測技術(shù)相比較，其在檢測和表征深層隱藏缺陷方面展現(xiàn)出其巨大優(yōu)勢。針對遠場渦流探頭體積大、檢測深度小的問題，設(shè)計了一種用于板材缺陷檢測的新型遠場渦流探頭，探頭最長邊為7 cm左右，可以檢測15 mm厚的鐵磁性平板。通過有限元仿真對探頭屏蔽結(jié)構(gòu)的材料和組成進行了比較分析，得出了探頭的最佳設(shè)計方案。通過...