基于Elman的熒光油膜厚度近效測量

摘要： 為解決熒光油膜灰度與厚度現(xiàn)標定方法（微小高度裝置法）存在采集工況復雜、標定周期較長等缺陷，提出了一種新的近效測量方法，該方法只需極少量標定數(shù)據(jù)，便可達到與現(xiàn)標定方法相近的效果。近效方法利用了Elman動態(tài)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)對小樣本數(shù)據(jù)進行量程擴展并引入一維插值算法使擴展后的數(shù)據(jù)項平滑，對解算出的三維熒光油膜厚度數(shù)據(jù)采用二維插值算法進行二次平滑以求得完整的厚度分布圖。經(jīng)模擬試驗結(jié)果顯示，通...