基于交織編碼的抗單粒子翻轉(zhuǎn)加固技術(shù)研究

摘要： 航空電子設(shè)備中靜態(tài)隨機存儲器型芯片易受環(huán)境中高能粒子輻射發(fā)生單粒子翻轉(zhuǎn)，造成關(guān)鍵存儲數(shù)據(jù)遺失嚴重影響飛機安全，當(dāng)前系統(tǒng)級加固技術(shù)存在糾錯能力有限，實用性不強的問題。為增強糾錯能力同時提高實用性，本文提出構(gòu)造最優(yōu)解循環(huán)移位交織器聯(lián)合(21,16)漢明碼的加固方法，糾正多種錯誤圖樣的連續(xù)4 bit及以下翻轉(zhuǎn)，搭建利用單幀重構(gòu)技術(shù)的故障注入平臺來替代粒子輻照實驗，無損高效的評估加固設(shè)...