一種優(yōu)化FPGA內(nèi)嵌BRAM自檢測March C+算法

摘要： 在現(xiàn)場可編程門陣列內(nèi)嵌塊存儲器(BRAM)測試中，傳統(tǒng)測試方法存在故障覆蓋率不高、測試內(nèi)容較多、測試成本較高等問題。
為了提高故障覆蓋率，在March C+算法的基礎(chǔ)上，提出一種March CG新算法。
該算法通過增加連續(xù)寫操作和測試算法的數(shù)據(jù)背景提高字內(nèi)耦合故障、寫干擾故障覆蓋率。
構(gòu)建高效率存儲器內(nèi)建自測試電路，采用March CG算法實現(xiàn)對單個BRAM和多個BRAM的測試。