基于故障注入的NOR Flash單粒子效應(yīng)模擬方法研究

摘要： 針對目前大容量NOR Flash存儲器單粒子效應(yīng)模擬缺乏具體操作方法的問題，本文提出NOR Flash單粒子翻轉(zhuǎn)、單粒子功能中斷、單粒子閉鎖3種單粒子效應(yīng)對應(yīng)軟件故障注入方法，設(shè)計適用于大容量器件的板級測試系統(tǒng)并進(jìn)行功能驗證，通過故障注入方法開展單粒子效應(yīng)模擬實驗。
NOR Flash存儲器單粒子效應(yīng)測試系統(tǒng)包括FPGA控制邏輯、Flash檢測板和上位機(jī)軟件三部分。