基于卷積神經網絡的閃存信道檢測技術研究

摘要： NAND閃存信道檢測技術直接影響數據存儲的可靠性,本文針對NAND閃存信道檢測過程中因缺乏信道先驗信息而導致檢測性能顯著降低的問題,提出了一種基于卷積神經網絡(convolutional neural networks,CNN)的信道檢測器。
該檢測器通過學習存儲單元閾值電壓隨應用場景的變化特性,來初始化網絡參數,并通過在系統(tǒng)空閑時間段優(yōu)化網絡參數來實現與信道的匹配。