波譜儀全稱(chēng)為波長(zhǎng)分散譜儀(WDS)。
在電子探針中,X射線是由樣品表面以下 m數(shù)量級(jí)的作用體積中激發(fā)出來(lái)的,如果這個(gè)體積中的樣品是由多種元素組成,則可激發(fā)出各個(gè)相應(yīng)元素的特征X射線。
被激發(fā)的特征X射線照射到連續(xù)轉(zhuǎn)動(dòng)的分光晶體上實(shí)現(xiàn)分光(色散),即不同波長(zhǎng)的X射線將在各自滿(mǎn)足布拉格方程的2 方向上被(與分光晶體以2:1的角速度同步轉(zhuǎn)動(dòng)的)檢測(cè)器接收。
波譜儀的特點(diǎn):
波譜儀的突出優(yōu)點(diǎn)是波長(zhǎng)分辨率很高。如它可將波長(zhǎng)十分接近的VK (0.228434nm),CrK 1(0.228962nm)和CrK 2(0.229351nm)3根譜線清晰地分開(kāi)。
但由于結(jié)構(gòu)的特點(diǎn),譜儀要想有足夠的色散率,聚焦圓的半徑就要足夠大,這時(shí)彎晶離X射線光源的距離就會(huì)變大,它對(duì)X射線光源所張的立體角就會(huì)很小,因此對(duì)X射線光源發(fā)射的X射線光量子的收集率也就會(huì)很低,致使X射線信號(hào)的利用率極低。
此外,由于經(jīng)過(guò)晶體衍射后,強(qiáng)度損失很大,所以,波譜儀難以在低束流和低激發(fā)強(qiáng)度下使用,這是波譜儀的兩個(gè)缺點(diǎn)。
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